表面分析：SIMS 表面分析方法：EDX、AES、XPS、TOF-SIMS - 知乎

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表面分析方法：EDX、AES、XPS、TOF-SIMS - 知乎。表面分析方法：EDX、AES、XPS、TOF-SIMS - 知乎。二次離子質譜分析儀(SIMS) - iST宜特。二次イオン質量分析法の基礎と応用に関する専門書。飛行時間型二次イオン質量分析(TOF-SIMS) | 日鉄テクノロジー。- タイトル: 表面分析：SIMS- 著者: D. ブリッグス, M.P. シーア- 定価: 8500円- 出版社: アグネス承風社ご覧いただきありがとうございます。ねこ。透明のブックカバーを付けて使用しておりました。助産学生。そのまま付けて発送予定です。【代ゼミ】『高3スーパー東大理系数学①②　荻野暢也先生　第1講授業ノート』。20年以上前に発行された本かつ、古本にご理解のほどお願いします。すみ。中身は美品だと思います。◯新品同様◯ユーキャンU-CAN社会福祉士講座[通信教育教材]。